仪器英文名

Transmission Electron Microscope with A Probe Corrector

型号

Titan Cubed Themis G2 300

制造商

FEI

购买年份

2015

仪器工程师

臧科涛，刘锐锐

Tel: 022-60216409

E-Mail: zangketao111@163.com

安放地点

12号教学楼一层

技术指标

1、具备聚光镜球差校正器。

2、EELS能量分辨率：优于0.35 eV (300 kV)。

3、透射电子显微（TEM）模式的点分辨率：优于0.22 nm (300 kV)。

4、HAADF分辨率：300 kV时0.06 nm，60 kV时优于0.136 nm。

5、具备Super X能谱仪系统。

6、极靴间距5.4 mm。

7、具备Enfinium ER Model 977系统一套，拥有Dual EELS功能、EDS/EELS同时高速采谱功能。

8、具备分割式STEM探头。

主要功能

1、STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析。

2、能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况，并获得相应的化学环境和电子结构信息。

3、可对无机材料进行形貌和成分的三维重构。

4、可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析。

5、可表征无机材料中的原子间电场分布。

6、可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。

应用范围

用于材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域