仪器中文名

高分辨场发射透射电镜

仪器英文名

High-Resolution Transmission  Electron Microscope with FEG

型号

Talos  F200X                                          

制造商

FEI                                          

购买年份

2015

仪器工程师

石晶，刘锐锐

Tel: 022-60216409

E-Mail: shijing0902@qq.com

安放地点

12号教学楼一层

技术指标

1、TEM模式的点分辨率：优于0.25 nm (200 kV)。

2、STEM点分辨率：优于0.16 nm (200 kV)。

3、具备Super X能谱仪系统。

4、极靴间距不小于 5 mm 。

5、在200kV时的结构三维重构的空间分辨率优于1 nm。

6、在200kV时的成分三维重构的空间分辨率优于2 nm。

主要功能

1、STEM模式和TEM模式能够对无机材料结构进行高分辨表征和分析。

2、可对无机材料进行形貌和成分三维重构。

3、可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析。

4、可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射分析。

应用范围

用于材料、化学化工、半导体、地质学、生物学、物理学等领域